菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心測量技術

菲希爾代理測量原理

運用 X 射線熒光光譜法，實現對鍍層厚度的精準測量。設備通過 X 射線源發(fā)射初級射線激發(fā)樣品，使元素原子內層電子躍遷產生特征 X 射線熒光。探測器精準捕獲熒光的能量與強度數據，從而實現對元素成分、鍍層厚度的定量分析。

測量方式

無損檢測，具備自動聚焦功能，保障樣品完整性與測量準確性。在測量過程中不會對樣品造成任何物理損傷，可對樣品進行多次重復測量 。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230元素測量范圍

涵蓋 Cl（17） - U（92），最多可同時測量 24 種元素、23 層鍍層。能夠滿足復雜多層膜體系以及多種元素成分分析的檢測需求，無論是常見金屬元素還是一些稀有元素的鍍層檢測都能勝任。