Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀

菲希爾庫倫法測厚儀測量原理

Fischer測厚儀COULOSCOPE CMS2這個(gè)系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕——實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。

COULOSCOPE CMS2測量槽——可比作微型電解缸——被用來剝離鍍層。 測量面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制， 用一個(gè)泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電解液最佳利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。

Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀

菲希爾電解法測厚儀，庫侖法的成本效益高，可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了靈活性，因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

COULOSCOPE CMS2 STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測量

如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時(shí)測量電化學(xué)電勢，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時(shí)測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。